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科研动态

06-28 

CMOS集成电路闩锁效应

闩锁效应(Latch-up)是CMOS工艺所特有的寄生效应，发生闩锁效应时会导致电路的失效，甚至烧毁芯片。

06-28 

数字隔离器结构分析技术研究

国产化替代的元器件，由于设计、结构、材料和工艺无法保证与进口元器件完全一致，这些方面的差异会直接影响元器件的固有可靠性，而通过结构分析技术，则可以在元器件设计环节准确的识别出这些潜在问题和缺陷。本文以进口ADUM1400 和国产 GL1400P 数字隔离器为对象进行了结构分析，发现了相关影响可靠性的因素。

10-21 

格励微推出EMC性能优越的集成隔离电源RS485/422总线收发器GLb2682P

格励微近日推出一款高集成度隔离式RS485/422总线收发器GLb2682P，该器件采用片上变压器实现信号和电源的隔离传输，

09-19 

基于FIT值的光耦合器和容性数字隔离器的比较

在集成电路的世界里，制造出高可靠性和高持久度的产品是非常重要的。尤其对于工业环境中要求的长达数十年的生命周期来说，可靠性和持久度更成为了关键的指标。无论从知识层面还是从直觉层面，事实都告诉我们，一个问题的变量越多，问题的结果就越复杂。或者，从系统的角度来说，一个系统的组件越多，它上面的脆弱点就越多。